Řádkovací tunelový mikroskop – STM (Scanning Tunnelling Microscope). Zařízení mapuje povrch pomocí pohybu vodivého hrotu nad vodivým povrchem sledovaného materiálu. Množství elektronů, které tuneluje z materiálu do hrotu je exponenciálně závislé na vzdálenosti a pomocí měřeného proudu lze vykreslit mapu povrchu. STM mikroskop byl vynalezen v roce 1981 G. Binnigem a H. Rohrerem.

Zpět  Glosář

---